• 50/100 MHz測試頻率

• 50/100 Mbps數(shù)據(jù)速率

• 512數(shù)字信道管腳
  (可至576數(shù)字信道管腳)

• 并行測試可達512 sites同測數(shù)

• 32/64/128M Pattern內存

• 多樣彈性VI電源

• 彈性化硬件結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)

• Real parallel Trim/Match功能

• 時序頻率測試單位 (TFMU)

• AD/DA功能板卡(16/24 bits) (可選配)

• SCAN向量存儲深度(2G bits/chain) (可選配)

• ALPG測試選配供內存IC用

• STDF工具支持

• 測試程序/pattern轉換器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)

• 人性化Window 7操作系統(tǒng)

• CRAFT C/C++ 程序語言

• 軟件接口與3380P/3360P相同

• Direct mount治具可相容于3360P probe-card

• Cable mount治具可相容于3360D與3360P

為因應未來IC芯片須具備更高速度及更多腳位及更復雜功能的IC芯片，Chroma新一代VLSI測試系統(tǒng)3380D/3380P/3380除采用更彈性架構外，整合密度更高且功能更強大。

3380D/3380P/3380機型為因應高同測(High Parallel Test)功能，除內建獨特的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外，更具備Any Pins to Any Site高同測功能(512 I/O pin可并行測512個測試芯片)，以因應未來IC芯片更高的測試需求。

3380P同時具備All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機臺性價比。

3380系列VLSI測試系統(tǒng)無論在裝機、穩(wěn)定度、友善使用接口、及成本效益上，長期以來皆已于中國市場獲得廣泛印證。

Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal) ; Power, LED driver, Class D ; SCAN, ALPG, Match and etc.